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发表于 2004-12-26 20:01:14
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本届会议征稿范围如下:
 电子测量的基础理论与前沿技术
测量数据处理及信息理论,信号过滤,信号估计,信号处理,数据压缩,数据融合,微电子测试技术,测试生成理论与算法,可测性设计理论与实践,纳米测试技术等。
 诊断、测试与计量技术
A/D,D/A变换,数据采集,校准、计量和标准,多芯片模块测试,混合信号测试,时间-频率及数据域测量,反射与传输测试,振动测试,压力、温度和湿度测试,电源测试,表面检测与分析,无损检测,故障建模、诊断及排除,PCB测试等。
 仪器与测试系统
传感器,卡式和模块仪器,智能仪器,虚拟仪器,医用电子测试仪器,非电量参数测量仪器,自动测试系统,仪器总线理论与技术等。
 电磁兼容测试理论与技术
发射与抗扰度测试,测试场地,不确定度理论等。
 计算机控制与网络测试技术
仪器与计算机的融合, 接口技术, 基于PC的仪器, 数据存储技术, 远程测控等。
 软件工程、电子设计开发与应用
软件工程与驱动软件开发, 嵌入式系统与软件, 数椐库开发与应用等。
 监测与控制技术
大气与环境监测, 无损检测, 工业控制仪器仪表的设计与应用等。
◆ 其他相关理论与技术 |
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